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產(chǎn)品型號：型號:SCG
產(chǎn)品代碼：
產(chǎn)品價(jià)格：1.0
計(jì)量單位：套
折 扣 率： 0
最后更新：2018-05-03
關(guān) 注 度：5263
生產(chǎn)企業(yè)：深圳市鑫志尚電子有限公司
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 與企業(yè)聯(lián)系時(shí)請告知該信息來自教育裝備網(wǎng)！ |
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹低溫和高溫真空探針臺
SEMISHARE真空環(huán)境高低溫測試技術(shù)
以下兩個(gè)應(yīng)用需要真空測試環(huán)境。
極低溫測試:
因?yàn)榫A在低溫大氣環(huán)境測試時(shí)，空氣中的水汽會凝結(jié)在晶圓上，會導(dǎo)致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內(nèi)的水汽在測試前用泵抽走，并且保持整個(gè)測試過程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。
高溫?zé)o氧化測試：
當(dāng)晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時(shí)，氧化現(xiàn)象會越來越明顯，并且溫度越高氧化越嚴(yán)重。過度氧化會導(dǎo)致晶圓電性誤差，物理和機(jī)械形變。避免這些需要把真空腔內(nèi)的氧氣在測試前用泵抽走，并且保持整個(gè)測試過程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。
晶圓測試過程中溫度在低溫和高溫中變換，因?yàn)闊崦浝淇s現(xiàn)象，定位好的探針與器件電極間會有相對位移，這時(shí)需要針座的重新定位，SEMISHARE針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動化針座來調(diào)整探針的位置。
SCG-C-4(閉循環(huán))/SCG-O-4(開循環(huán))特點(diǎn)：
載物Chuck 溫度范圍：4K-500K
外置4個(gè)定位針臂，預(yù)留2個(gè)
探針X-Y-Z三方向移動，行程：25.4mm，定位精度：10微米
最多可以外置6個(gè)定位針臂
載物chuck 最大可到8英寸
雙屏蔽chuck高低溫時(shí)達(dá)到100FA 的測試精度
針臂定位精度可以升級為0.7微米
可以選擇射頻配件做最高67 GHz的射頻測試
可以選擇防震桌
可以選擇超高真空腔體,極限真空到10-10 torr
客戶訂制
溫控規(guī)格:
控溫范圍
4K-500K
控溫精度
0.001K
溫度穩(wěn)定性
4 K + - 0.1 K
77 K + - 0.1 K
373 K + - 0.08 K
473 K + - 0.1 K
823 K + - 0.2 K(可選)
973 K + - 1.0K(可選)
常溫到8K冷卻時(shí)間:
1小時(shí)40分鐘
8K到常溫升溫時(shí)間:
1小時(shí)30分鐘
從常溫開始的升溫時(shí)間
473K 823K 973K
(4 chuck，單位分：秒)
25:00 55:00 70:00
電源
直流
材質(zhì)
SS304
功率(4chuck)
50/100W
機(jī)械規(guī)格
針座行程
X軸方向
25.4mm(1 inch)
可以選擇50.8mm
Y軸方向
25.4mm(1 inch)
可以選擇50.8mm
Z軸方向
25.4mm(1 inch)
可以選擇50.8mm
移動精度
X軸方向
10 micron
可以選擇0.35,0.7,5,10 or 20 micron
Y軸方向
10 micron
可以選擇0.35,0.7,5,10 or 20 micron
Z軸方向
10 micron
可以選擇0.35,0.7,5,10 or 20 micron
探針可旋轉(zhuǎn)角度(應(yīng)用于射頻測試)
+-5 度
光學(xué)部件規(guī)格
顯微鏡X-Y軸方向行程
2"*2"
可以選擇4"*4"
總共放大倍率
240X
可以選擇更高倍率
真空腔觀察窗口
4 inch
外部石英材質(zhì)99%紅外線穿過率
內(nèi)部吸收紅外線僅可見光通過
光源
150W可連續(xù)調(diào)節(jié)
雙光纖導(dǎo)引
可選附件
防震桌
方形chuck
分子泵組
射頻部件
Chuck可外部移動裝置
客戶定制。 |
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| 會員級別：免費(fèi)會員 |
| 加入時(shí)間：2017-01-11
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