ZEISS METROTOM 工業(yè)CT斷層掃描儀
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產品型號：ZEISS METROTOM
產品代碼：Z2
產品價格：0
產品編碼：Z002
計量單位：臺
折 扣 率： 0
最后更新：2018-08-17
關 注 度：5997
生產企業(yè)：廣東越聯儀器有限公司
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產品詳細介紹斷層工業(yè)CT掃描儀
產品詳情 Product Information
基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計算機斷層掃描（CT）
利用蔡司的工業(yè)計算機斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次X射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導軌及轉臺，滿足客戶對精度的高要求。
測量與檢驗整體部件
ZEISS METROTOM是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機測量時，此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。
輕松且精準地進行多樣化特征檢測
利用ZEISS METROTOM計算機斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結果非常精準，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短。
直觀簡易的軟件操作
僅需通過短時間的ZEISS METROTOM OS軟件培訓課程，操作人員即可對零件進行掃描，透視零件的內部。利用ZEISS CALYPSO可評估CT數據，再利用ZEISS PiWeb即可快速地將兩者融合于同一份測量報告中。
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| 會員級別：免費會員 |
| 加入時間：2018-08-17
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